EXAFS

Z Wikipedii, wolnej encyklopedii
Skocz do: nawigacja, szukaj

EXAFS (ang. Extended X-Ray Absorption Fine Structure) – metoda wykorzystania subtelnej struktury blisko progu absorpcji promieniowania X, służąca do wyznaczania struktury fazy skondensowanej. Metoda ta umożliwia przeprowadzanie badań materiałów amorficznych.

Wymagane jest użycie promieniowania o znacznym natężeniu i dlatego z reguły wykorzystuje się z promieniowanie synchrotronowe. Przechodzi ono przez braggowski monochromator o zmiennym i regulowanym nachyleniu, monitor, badaną próbkę oraz detekcyjną komorę jonizacyjną. Energie krawędzi absorpcji są określane dla każdego z pierwiastków. Interesujący jest przebieg krzywej absorpcji dla energii większych od krawędzi, w której zakodowane są informacje strukturalne które uzyskać można stosując transformatę Fouriera. Dodatkowo wyznacza się ile atomów, jakiego pierwiastka i w jakiej odległości znajduje się od atomu pierwiastka określonego przez krawędź absorpcji.

Przy użyciu tej metody można podać wzajemne odległości atomów z dokładnością 1,5 pm.