Mikroskop sił magnetycznych
Z Wikipedii, wolnej encyklopedii
 |
Ten artykuł od 2011-02 wymaga uzupełnienia źródeł podanych informacji. Informacje nieweryfikowalne mogą zostać zakwestionowane i usunięte. Aby uczynić artykuł weryfikowalnym, należy podać przypisy do materiałów opublikowanych w wiarygodnych źródłach. |
Mikroskop sił magnetycznych (ang. MFM – Magnetic Force Microscope) – mikroskop, w którym ostrze pokryte cienką warstwą ferromagnetyka wibruje z częstotliwością bliską rezonansowej, poruszając się blisko badanej powierzchni. Poprzez modulację częstości z jaką wibruje dźwignia, mikroskop rejestruje namagnesowanie badanej powierzchni. Zmiany te są indukowane przez zależność pola magnetycznego od odległości ostrze – próbka. Jest on używany do badania struktur domen magnetycznych powierzchni głowic i nośników magnetycznych, np. dysków twardych.
