Interferometr Fizeau
Interferometr Fizeau jest to interferometr dwuwiązkowy, wspólnej drogi, z podziałem amplitudy. Najczęściej jest używany do pomiaru kształtu powierzchni bądź jednorodności materiału. Jego działanie polega na interferencji dwóch fal odbitych od powierzchni referencyjnej oraz od powierzchni badanej. W zależności od różnicy dróg optycznych między promieniami otrzymujemy prążki interferencyjne.
Sposób działania[edytuj | edytuj kod]
Światło z quasi-monochromatycznego źródła, najczęściej lasera, przechodzi przez przesłonę otworkową i pada na kolimator, który zapewnia równoległość promieni w układzie pomiarowym. Następnie ulega odbiciu od powierzchni i wraca tą samą drogą, odbijając się od płytki światłodzielącej i tworzy obraz interferencji odbitych fal.
Fale odbijają się od każdej powierzchni na którą trafią, dlatego wzorzec zazwyczaj jest delikatnym klinem, aby odbijające się od niego światło nie zakłócało pomiaru. W przypadku pomiaru kształtu powierzchni obserwatora interesuje interferencja fali odbitej od dolnej powierzchni wzorca, będącej powierzchnią referencyjną, z falą odbitą od badanej powierzchni. Obserwator obserwuje prążki interferencyjne będące wynikiem różnicy dróg optycznych wynikających z kształtu powierzchni badanej. Obserwowane prążki odpowiadają poziomicom, czyli w przypadku wypukłości lub wklęsłości obserwuje się prążki kołowe, zaś w przypadku pochylenia powierzchni prążki równoległe.
Wysokość H badanego defektu możemy wyliczyć ze wzoru:
gdzie:
- λ – długość fali
- S – ilość prążków
Interferometr Fizeau pozwala również zmierzyć nieliniowe zmiany współczynnika załamania w szklanej płytce. Można to wykonać rejestrując 3 obrazy prążkowe – interferencji każdej z powierzchni z powierzchnią wzorca oraz jeden dla promienia odbitego od dolnej powierzchni po przejściu przez płytkę. Analiza tych trzech obrazów pozwala nam na wyznaczenie niejednorodności współczynnika załamania.
Zobacz też[edytuj | edytuj kod]
Bibliografia[edytuj | edytuj kod]
- Romuald Jóźwicki: Podstawy inżynierii fotonicznej. Warszawa: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2006. ISBN 83-7207-635-9.
- Romuald Jóźwicki: Optyka Instrumentalna. Warszawa: WNT, 1970.