Wikipedia:Artykuły na Medal/zajawki/Skaningowy mikroskop tunelowy

Zajawka artykułu Skaningowy mikroskop tunelowy

[[Plik:Scanning tunneling microscope - scheme.svg|200px|left]]
'''[[Skaningowy mikroskop tunelowy]]''' ('''STM''' od [[język angielski|ang.]] '''''S'''canning '''T'''unneling '''M'''icroscope'') umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni materiałów przewodzących ze [[zdolność rozdzielcza|zdolnością rozdzielczą]] rzędu pojedynczego [[atom]]u. Uzyskanie obrazu powierzchni jest możliwe dzięki wykorzystaniu [[zjawisko tunelowe|zjawiska tunelowego]], od którego przyrząd ten wziął swoją nazwę. ''[[Skaningowy mikroskop tunelowy|Czytaj więcej …]]''

Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni materiałów przewodzących ze zdolnością rozdzielczą rzędu pojedynczego atomu. Uzyskanie obrazu powierzchni jest możliwe dzięki wykorzystaniu zjawiska tunelowego, od którego przyrząd ten wziął swoją nazwę. Czytaj więcej …

Ostatnia ekspozycja: 2005-03-24

Poniżej w porządku chronologicznym widoczne są ekspozycje tej zajawki. Prosimy nie poprawiać ich z wyjątkiem aktualizacji linków po przenosinach artykułów.

2005-03-24

Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni materiałów przewodzących ze zdolnością rozdzielczą rzędu pojedynczego atomu. Uzyskanie obrazu powierzchni jest możliwe dzięki wykorzystaniu zjawiska tunelowego, od którego przyrząd ten wziął swoją nazwę.