Plik:Schemat pomiaru metodą XPS.JPG

Treść strony nie jest dostępna w innych językach.
Ten plik jest umieszczony w Wikimedia Commons
Z Wikipedii, wolnej encyklopedii

Schemat_pomiaru_metodą_XPS.JPG(780 × 534 pikseli, rozmiar pliku: 58 KB, typ MIME: image/jpeg)

Opis

Opis
Polski: Schematyczny rysunek przedstawiający wzbudzanie próbki Si/SiO2 promieniowaniem rentgenowskim i emisja fotoelektronów.
Data
Źródło http://en.wikipedia.org/wiki/File:System2.gif
Autor Bvcrist

Licencja

w:pl:Licencje Creative Commons
uznanie autorstwa na tych samych warunkach
Wolno:
  • dzielić się – kopiować, rozpowszechniać, odtwarzać i wykonywać utwór
  • modyfikować – tworzyć utwory zależne
Na następujących warunkach:
  • uznanie autorstwa – musisz określić autorstwo utworu, podać link do licencji, a także wskazać czy utwór został zmieniony. Możesz to zrobić w każdy rozsądny sposób, o ile nie będzie to sugerować, że licencjodawca popiera Ciebie lub Twoje użycie utworu.
  • na tych samych warunkach – Jeśli zmienia się lub przekształca niniejszy utwór, lub tworzy inny na jego podstawie, można rozpowszechniać powstały w ten sposób nowy utwór tylko na podstawie tej samej lub podobnej licencji.

Podpisy

Dodaj jednolinijkowe objaśnienie tego, co ten plik pokazuje

Obiekty przedstawione na tym zdjęciu

przedstawia

Historia pliku

Kliknij na datę/czas, aby zobaczyć, jak plik wyglądał w tym czasie.

Data i czasMiniaturaWymiaryUżytkownikOpis
aktualny22:57, 22 mar 2012Miniatura wersji z 22:57, 22 mar 2012780 × 534 (58 KB)Doomgiver

Poniższa strona korzysta z tego pliku: