JTAG

Z Wikipedii, wolnej encyklopedii
Skocz do: nawigacja, szukaj

JTAG (ang. Joint Test Action Group) to nazwa standardu IEEE 1149.1 definiującego protokół używany do testowania połączeń na płytkach drukowanych, stosowany także do uruchamiania i programowania układów programowalnych i systemów mikroprocesorowych. Żeby można było wykorzystywać JTAG do wymienionych celów, układy scalone umieszczone w testowanym systemie muszą posiadać wewnątrz odpowiednią warstwę sprzętową tego interfejsu. Jednym z najważniejszych założeń standardu JTAG jest możliwość programowania układu w gotowym urządzeniu, bez konieczności odłączania (ang. In-System Programming, w skrócie ISP).

Linie sygnałowe interfejsu JTAG, to:

  1. TDI (ang. Test Data In) – Wejście danych,
  2. TDO (ang. Test Data Out) – Wyjście danych,
  3. TCK (ang. Test Clock) – Wejście sygnału zegarowego,
  4. TMS (ang. Test Mode Select) – Wybór trybu pracy,
  5. TRST (ang. Test Reset) – Zerowanie (opcjonalne).

JTAG działa na zasadzie automatu 16-stanowego o alfabecie wejściowym TMS=0/TMS=1. Reset procesu programowania odbywa się na dwa sposoby:

  1. poprzez opcjonalne wejście TRST,
  2. po ustawieniu TMS=1 na 5 cykli zegara.

Możliwe jest programowanie kilku układów jednocześnie – wówczas tworzy się tzw. łańcuch urządzeń połączonych szeregowo. Na poniższym schemacie zaprezentowany został sposób łączenia kolejnych układów:

Łańcuch JTAG dla trzech układów

Zobacz też[edytuj | edytuj kod]