JTAG

Z Wikipedii, wolnej encyklopedii
Przejdź do nawigacji Przejdź do wyszukiwania

JTAG (ang. Joint Test Action Group) to nazwa standardu IEEE 1149.1 definiującego protokół używany do testowania połączeń na płytkach drukowanych, stosowany także do uruchamiania i programowania układów programowalnych i systemów mikroprocesorowych. Żeby można było wykorzystywać JTAG do wymienionych celów, układy scalone umieszczone w testowanym systemie muszą posiadać wewnątrz odpowiednią warstwę sprzętową tego interfejsu. Jednym z najważniejszych założeń standardu JTAG jest możliwość programowania układu w gotowym urządzeniu, bez konieczności odłączania (ang. In-System Programming, w skrócie ISP).

Linie sygnałowe interfejsu JTAG, to:

  1. TDI (ang. Test Data In) – Wejście danych,
  2. TDO (ang. Test Data Out) – Wyjście danych,
  3. TCK (ang. Test Clock) – Wejście sygnału zegarowego,
  4. TMS (ang. Test Mode Select) – Wybór trybu pracy,
  5. TRST (ang. Test Reset) – Zerowanie (opcjonalne).

JTAG działa na zasadzie automatu 16-stanowego o alfabecie wejściowym TMS=0/TMS=1. Reset procesu programowania odbywa się na dwa sposoby:

  1. poprzez opcjonalne wejście TRST,
  2. po ustawieniu TMS=1 na 5 cykli zegara.

Możliwe jest programowanie kilku układów jednocześnie – wówczas tworzy się tzw. łańcuch urządzeń połączonych szeregowo. Na poniższym schemacie zaprezentowany został sposób łączenia kolejnych układów:

Łańcuch JTAG dla trzech układów

Zobacz też[edytuj | edytuj kod]