Płytki interferencyjne
Płytki interferencyjne wykorzystują zjawisko interferencji do sprawdzania płaskości i równoległości powierzchni pomiarowych przyrządów pomiarowych[1].
Możemy wyszczególnić dwa rodzaje płytek interferencyjnych:[2]
- płaskie płytki interferencyjne
- płaskorównoległe płytki interferencyjne
Płaskie płytki interferencyjne
[edytuj | edytuj kod]Wykonywane w postaci szklanych krążków o średnicach 45, 60, 80 lub 100 mm w dwóch klasach dokładności I i II (według normy PN-74/M-54602)[2].
W zależności od kształtu powierzchni pomiarowej można rozróżnić płytki o symbolu "A" - jednostronne i dwustronne, oraz płytki o symbolu "B" - ze skosem.[2]
Zastosowanie
[edytuj | edytuj kod]Płaskich płytek interferencyjnych używa się do:
- wyznaczania odchyłki płaskości powierzchni (o odchyłce płaskości nie przekraczającej 3 μm, powierzchnie muszą być odbijające, by było możliwe obserwowanie prążków interferencyjnych[3]) np. wyznaczanie płaskości kowadełka i wrzeciona w mikrometrze, wyznaczanie odchyłki płaskości powierzchni pomiarowych płytki wzorcowej[4], wyznaczanie odchyłki płaskości stopy głębokościomierza mikrometrycznego[5].
- wyznaczania odchyłki płaskości powierzchni za pomocą liniału krawędziowego lub prostoliniowości krawędzi pomiarowych za pomocą płytki wzorcowej lub wkładki płaskowalcowej, gdzie do płaskiej płytki interferencyjnej przywierane są płytki wzorcowe mikronowe, w celu utworzenia szczeliny wzorcowej[3]. Np. wyznaczanie płaskości powierzchni i prostoliniowości krawędzi pomiarowych w suwmiarce[6], wyznaczanie odchyłki płaskości stopy w głębokościomierzu suwmiarkowym lub odchyłki płaskości podstawy w wysokościomierzu suwmiarkowym[7].
- wyznaczania odchyłki płaskości powierzchni pomiarowych płaskich lub płaskorównoległych płytek wzorcowych[8].
- wyznaczania przywieralności powierzchni pomiarowych płytki wzorcowej[4][9]
Wzorcowanie płaskich płytek interferencyjnych
[edytuj | edytuj kod]W trakcie wzorcowania płaskich płytek interferencyjnych jedynym wyznaczanym parametrem jest odchyłka płaskości powierzchni pomiarowych[10].
Odchyłkę płaskości wyznacza się metodą wzajemnego sprawdzania trzech płytek interferencyjnych.
Płaskorównoległe płytki interferencyjne
[edytuj | edytuj kod]Wykonywane w postaci szklanych krążków, zazwyczaj w kompletach po 4 sztuki różniące się między sobą wysokością (o 0,12 lub 0,13 mm dla gwintu śruby mikrometrycznej o skoku 0,5 mm[11]).
Zastosowanie
[edytuj | edytuj kod]Płaskorównoległych płytek interferencyjnych używa się do:
- wyznaczania odchyłki równoległości powierzchni pomiarowych[2] np. w mikrometrach zewnętrznych[12] lub grubościomierzach czujnikowych[13] (z lustrzanymi powierzchniami pomiarowymi). Różnice wysokości płytek (co 0,12 lub 0,13 mm) odpowiadają około 1/4 skoku śruby mikrometrycznej, co pozwala na sprawdzenie odchyłki równoległości kowadełka i wrzeciona w czterech położeniach kątowych co ok. 90 stopni.
Wzorcowanie płaskorównoległych płytek interferencyjnych
[edytuj | edytuj kod]W trakcie wzorcowania płaskorównoległych płytek interferencyjnych wyznaczane są następujące parametry[14]:
- odchyłka płaskości powierzchni pomiarowych płaskorównoległych płytek interferencyjnych (za pomocą płaskich płytek interferencyjnych)
- odchyłka równoległości powierzchni pomiarowych płaskorównoległych płytek interferencyjnych
- odchyłka długości płaskorównoległych płytek interferencyjnych
Przypisy
[edytuj | edytuj kod]- ↑ Janusz Rakowiecki , Podstawy metrologii, „Wydawnictwa Szkolne i Pedagogiczne”, 1974, s. 196 .
- ↑ a b c d Władysław Jakubiec , Jan Malinowski , Metrologia wielkości geometrycznych, „Wydawnictwa Naukowo-Techniczne”, 1999, s. 330, ISBN 83-204-2380-5 .
- ↑ a b Jerzy Gliwiński (red.), Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta, „Wydawnictwa Normalizacyjne”, 1979, s. 61 .
- ↑ a b Wzorcowanie płytek wzorcowych długości (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Wzorcowanie głowic i głębokościomierzy mikrometrycznych - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Wzorcowanie suwmiarek (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Wzorcowanie głębokościomierzy i wysokościomierzy suwmiarkowych (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Jerzy Gliwiński (red.), Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta, „Wydawnictwa Normalizacyjne”, 1979, s. 70 .
- ↑ Jerzy Gliwiński (red.), Metody sprawdzania narzędzi do pomiarów długości i kąta, „Wydawnictwa Normalizacyjne”, 1979, s. 64 .
- ↑ Wzorcowanie płaskich płytek szkieł interferencyjnych (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Ryszard Wit , Pracownia metrologiczna, „Wydawnictwa Szkolne i Pedagogiczne”, s. 325 .
- ↑ Wzorcowanie mikrometrów zewnętrznych i wewnętrznych (Akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Wzorcowanie grubościomierzy i głębokościomierzy czujnikowych - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .
- ↑ Wzorcowanie płaskorównoległych płytek szkieł interferencyjnych (akredytacja PCA) - KUM ŁÓDŹ [online], www.kumlab.eu [dostęp 2016-07-14] .