Walter A. Shewhart
Przejdź do nawigacji
Przejdź do wyszukiwania
| |
| Pełne imię i nazwisko | Walter Andrew Shewhart |
|---|---|
| Data i miejsce urodzenia | 18 marca 1891 New Canton |
| Data i miejsce śmierci | 11 marca 1967 Troy Hills |
| Zawód, zajęcie | fizyk, inżynier, statystyk |
| Alma Mater | Uniwersytet Illinois |
Walter Andrew Shewhart (ur. 18 marca 1891 w New Canton, zm. 11 marca 1967 w Troy Hills) – amerykański fizyk, inżynier i statystyk, często nazywany ojcem statystycznej kontroli jakości.
Życiorys[edytuj | edytuj kod]
Ukończył Uniwersytet Illinois, natomiast w 1917 uzyskał tytuł doktora fizyki na Uniwersytecie Kalifornijskim w Berkeley.
W. Edwards Deming powiedział o nim: „Jako statystyk był, podobnie jak wielu z nas, samoukiem, z dobrą wiedzą o fizyce i matematyce.”
Wynalazł najważniejsze narzędzie, jakim posługujemy się dziś w sterowaniu jakością – kartę kontrolną.