Walter A. Shewhart
Walter Andrew Shewhart (ur. 18 marca 1891 w New Canton, zm. 11 marca 1967 w Troy Hills), amerykański fizyk, inżynier i statystyk, często nazywany ojcem statystycznej kontroli jakości.
Ukończył University of Illinois, natomiast w 1917 uzyskał tytuł doktora fizyki na University of California w Berkeley.
W. Edwards Deming powiedział o nim: "Jako statystyk był, podobnie jak wielu z nas, samoukiem, z dobrą wiedzą o fizyce i matematyce."
Wynalazł najważniejsze narzędzie, jakim posługujemy się dziś w sterowaniu jakością - kartę kontrolną.
