Kategoria:Metrologia

!

• [+] User metr

F

• [+] Fotometria

J

• [+] Jednostki miar i wag

M

• [+] Metrologia historyczna

P

• [+] Przyrządy pomiarowe

R

• [+] Rachunek błędów
• [+] Radiometria

S

• [+] Skale

T

• [+] Teoria pomiarów

!

• Metrologia
• Metrologia historyczna

B

• Badawcze systemy pomiarowe
• Brutto

C

• Certyfikat
• Chropowatość powierzchni

D

• Dzielnik częstotliwości

F

• Filtr selektywny

G

• Generalna Konferencja Miar
• Generator częstotliwości wzorcowej
• Główny Urząd Miar

I

• Interferometria
• Interferometria plamkowa

K

• Klasa (miernictwo)
• Klasa niedokładności

L

• Laboratorium
• Legalizacja (metrologia)
• Lumel

M

• Maska telekomunikacyjna
• Metrologia elektryczna
• Miara (metrologia)
• Miernictwo

N

• National Institute of Standards and Technology
• Netto
• Niepewność względna

P

• Paralaksa
• Państwowy wzorzec jednostki miary
• Pobudliwość narzędzia pomiarowego
• Podziałka mianowana
• Pomiar
• Pomiar dydaktyczny
• Pomiar poziomu
• Pomiar temperatury
• Pomiary, Automatyka, Kontrola
• Posobnik
• Poziom ufności
• Propagacja (metrologia)
• Protokół wzorcowania
• Punkt pomiarowy
• Płytki Johanssona
• Płytki wzorcowe

R

• Zdzisław Rauszer

S

• SNR
• Spójność pomiarowa
• Sygnał

S cd.

• Sygnał diagnostyczny
• Sygnał pomiarowy
• System pomiarowy
• Szacowanie

T

• Tara (waga)
• Tendencja centralna
• Tensometria
• Tolerancja (technologia)

U

• United States Metric Board

W

• Wartość niemianowana
• Warunki odniesienia
• Wielkość (mierzalna)
• Wielkość mierzona
• Wymagania metrologiczne
• Wymiar wielkości fizycznej
• Wymiary geometryczne
• Wynik pomiaru
• Wzorcowanie
• Wzorzec częstotliwości
• Wzorzec inkrementalny
• Wzorzec jednostki miary

Z

• Zakres pomiarowy

Ś

• Świadectwo wzorcowania